문서의 임의 삭제는 제재 대상으로, 문서를 삭제하려면 삭제 토론을 진행해야 합니다. 문서 보기문서 이동문서 삭제토론 X선 (문단 편집) == 용도 == * 의료용: X선 발견 초기에는 일부 물질들(금속, 뼈 등등)을 제외하고 투과성이 높은 특성을 이용하여 좀처럼 보기 어려웠던 인체 내부를 투사해 의료용으로 사용되기 시작했다. X선을 주로 다루는 의학 분야는 [[영상의학과]]이다. * 물성분석용 * X선 회절 분석(X-Ray Diffraction, XRD): 결정구조를 가진 물질을 분석하는 데 이용한다. X선의 파장이 결정의 크기와 비슷한 대역이라 상호작용을 잘 하기 때문. 특정 물질을 정성분석하는 분말 X선 회절 분석(powder XRD, PXRD), 단결정의 결정 구조를 밝혀내는 단결정 X선 회절 분석(single crystal XRD), 입자의 크기 분포를 정량적으로 측정하는 X선 소각 산란(Small Angle X-ray Scattering, SAXS) 등이 있다. 주요 제조사로는 Bruker (독일), Rigaku (일본) 등이 꼽힌다. * X선 광전자 분광법(X-ray Photoelectron Spectroscopy, XPS): X선으로 내각 전자를 들뜨게 하여 가전자로 만들고, 그 가전자가 진공 중으로 광전자로 방출되는 현상을 이용하여 원소분석 및 화학 결합에 대한 정보를 얻는 방법. * 특성 X선 분광법(Charaterstic X-ray Spectroscopy): 물질 표면의 구성 원소를 정성 및 정량적으로 분석하는 방법. 외부 자극에 의해 전자가 궤도에서 이탈되면, 그 이탈한 빈자리를 채우기 위해 더 높은 준위에 있던 전자가 빈자리로 내려오면서 그 에너지 차이를 빛(X선)으로 방출하게 되고, 이를 각 원소의 특성 X선과 대조하여 어떤 원소가 포함되어 있는가를 분석하는 방법. 일반적으로 주사 [[전자현미경]](SEM)이나 투과[[전자현미경]](TEM) 혹은 전자탐침분석기(EPMA)에 부착되어 검출기로 사용되거나, X선 형광분석기 (X-ray fluorescence analyzer, XRF) 시스템의 검출기로 사용된다. 차이점은 전자로 전자를 이탈시키느냐 (SEM/TEM/EPMA), 아니면 X선으로 전자를 이탈시키느냐(XRF)에 있으며, 일반적으로 XRF는 넓은영역을 관찰하고, 전자현미경류의 경우 좁은 영역을 관찰하거나 원소 mapping에 용이하다. 방식에 따라 에너지 분산식 (Energy dispersive)과 파장 분산식(Wavelength dispersive)로 나뉜다. Oxford Instrument, Thermo Fisher Scientific, Ametek(EDAX), JEOL, Bruker, Rigaku 등이 주로 생산한다. * 에너지 분산 X선 분광법 (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy, EDS) : 특성 X선을 Silicon drift detector로 에너지에 따라 검출한다. 신호를 받아들이는 양이 크므로 분석시간이 짧고 전자현미경 조건에서 사용이 가능하므로 SEM이나 TEM에 부착돼서 주로 사용된다. 그러나 WDS에 비해서 정량분석의 정확도가 떨어진다. * 파장 분산 X선 분광법 (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy, WDS): 특성 X선을 단결정을 통과시켜 특정 파장에 해당하는 X선만을 받아낸다. 모든 X-ray를 동시에 받아내는 EDS와 달리, 단결정을 회전시키면서 특정 파장에 해당하는 X-ray만을 순차적으로 받아들이는 방식으로 분석시간이 EDS에 비해 월등히 오래 걸리므로 불편하지만, 훨씬 정확한 정량분석 결과를 산출한다. *X선 형광분석기 (X-ray fluorescence analyzer, XRF) : EDS 또는 WDS 방식으로 시료의 원소를 정성/정량분석한다. * 산업용 * X선 사진 식각(X-ray lithography): [[리소그래피]]의 한 방법. X선은 자외선에 비해서도 훨씬 짧은 파장을 가지기 때문에 더 미세한 기판을 용이하게 깎을 수 있으나, X선 자체가 방사선이라는 약점(위험성)을 안고 있다. 이 경우는 광원의 낮은 회절율(높은 직진성)을 이용한 기술이다. X선이라고 분류하기는 애매하나 EUVL(Extreme UltraViolet Lithography, 극자외선 리소그래피)에 사용되는 자외선의 파장이 13.5 nm로, X선에 거의 근접한 파장을 갖는 자외선이다. * [[비파괴검사]] * X-ray 보안검색저장 버튼을 클릭하면 당신이 기여한 내용을 CC-BY-NC-SA 2.0 KR으로 배포하고,기여한 문서에 대한 하이퍼링크나 URL을 이용하여 저작자 표시를 하는 것으로 충분하다는 데 동의하는 것입니다.이 동의는 철회할 수 없습니다.캡챠저장미리보기